椭偏光谱仪

设备名称：椭偏光谱仪

设备厂家、型号：JA Woollam RC2 XI

负责教师：赵丹   联系方式：C336   电话：020-31137963

功能指标：

可应用于各种各向同性/异性薄膜材料膜厚、光学纳米光栅常数以及一维/二维纳米光栅材料结构的表征分析。

技术指标：

波长范围：193-1690nm（分辨率：1nm）

测量速度：典型数据全光谱测量不超过1秒。

温度范围：-70~600℃•变角范围：45°~ 90°

注意事项：

1、未经许可，不得自行调节样品台旋钮

2、遵照使用说明，按顺序开关机

仪器地点：

 化学材料综合楼C212

备注：